技術參數

 梅特勒 XP系列分析天平技術參數

DR=變量程；sd=標準偏差

性能特點

梅特勒XP系列分析天平主要特點：分析天平采用分離的稱量單元和顯示控制單元，分析天平避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響

●XP系列分析天平

●XP系列分析天平天平校驗功能（BalanceCheck），分析天平自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，分析天平確保稱量結果始終準確

●GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保XP系列分析天平始終正確工作

●優化XP系列分析天平適應性的稱量參數設置，分析天平滿足不同稱量環境要求

●XP系列分析天平可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計，實現分析天平的快速清潔

●XP系列分析天平豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量

水平控制系統（LevelControl）：XP系列分析天平在使用過程中或移動后偏離水平位置影響到稱量結果的準確性時，分析天平控制系統會發出聲音警告，并顯示調整信息，分析天平準確地指導您調節分析天平恢復至水平位置。

紅外感應器（SmartSens）：分析天平實現無需用手接觸的分析天平操作：開關門、去皮、回零、打印。即使稱量毒性或腐蝕性樣品，您也一樣安全無憂！

專業級全自動校準技術（proFACT）：XP系列分析天平實現溫度漂移和用戶時間設置觸發的全自動內置砝碼校正和線性校正。