keysight 86112A 20 GHz 雙通道電模塊

通過采用靈敏的輸入微型電路，DCA模塊提供了非常高的測量性能。這些微型電 路為客戶提供了杰出的模塊靈敏度和帶寬，但與此同時，輸入端也容易因靜電放電 (ESD)和電壓超載(EOS)而受到損壞。超過±2 V的任何電壓都可能會損壞輸入端。 但是，通過采取一些預防措施，您可以避免模塊受到ESD和EOS損壞，提高模 塊性能。 3 個簡便的步驟 1. 考察下面列出的四個主要損壞來源，確定哪些條件適用于您的應用。 2. 實施相應的“預防措施”。 3. 監測設置，持續教育用戶，確保用戶知道怎樣防止模塊輸入損壞。 在所有應用中，均應采用ESD工作站，如本文第四部分列出的ESD工作站。 無源(不帶電的)電路板測試 損壞來源 i. 露在“空氣”里的電路板會積聚和貯存電荷。 預防措施 i. 使用 ESD 工作站，如本文第四部分列出的 ESD 工作站。 ii. 使用空氣離子發生器。 iii. 使探頭直接接地或使探頭接到 DCA 主機的接地端子上，對測試點放電。 有源(帶電的)電路板測試 損壞來源 i. 即使在電路板斷電后，電容器仍可能帶電。 ii. 電路板上的電壓可能會超過模塊的zui大輸入電平。參閱“DCA聯機幫助”中的 模塊技術數據。 iii. 被測設備(DUT)發出瞬態電壓。 預防步驟 i. 使用內嵌式衰減器(如 3 dB)，降低進入模塊的電壓。 ii. 使用第二部分列明的放電方式，但注意不要損壞帶電的 DUT。