![LW300MT]硅芯片檢查顯微鏡](https://img43.asia-eur.cn/00450ea57bc9bc7d8e4af78d883f09ecb3b4a69a8d2f79e41904f5ad0186b4d6d941d1a8e01a9fb2_451_310_5.jpg)
- 鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
- 轉換器：五孔
- 總放大倍數(shù)：50X~800X
- 載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
- 調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調，反射照明帶起偏振片
- 正交偏光裝置
鄭州澤銘科技有限公司
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本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
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