德國菲希爾FISCHER FMP30高精度涂層測厚儀簡介：
德國菲希爾FISCHER FMP30高精度涂層測厚儀，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀采用了磁性測厚法，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀是一種超小型測量儀，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀：
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀采用了磁性測厚法，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀是一種超小型測量儀，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀配備有一個的和便于讀取的 60 x 30 mm （2.4" x 1.2"））液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數據和操作員提示
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀配備有一個的和便于讀取的 60 x 30 mm （2.4" x 1.2"））液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數據和操作員提示
DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀采用根據DIN EN ISO 2178, ASTM B499標準的電磁感應方法，適用于測量：
- 非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上
- 油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀：
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀特別適用于工程現場高精度的測量；
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀配合渦流探頭：
FTA3.3H，測量范圍：0 - 1200 μm
FGAB1.3，訂貨號：604-141，測量范圍：0 - 2000 μm
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀有一個的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號， 2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數據和操作員提示。
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀采用根據DIN EN ISO 2360, ASTM B244標準的電渦流方法，適用于測量：
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀有一個的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號， 2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數據和操作員提示。
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀采用根據DIN EN ISO 2360, ASTM B244標準的電渦流方法，適用于測量：
- 非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上
- 鋁的陽極氧化層（非鐵基材）
ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀常用渦流探頭：FTA3.3H，訂貨號：604-142，測量范圍：0 - 1200 μm，測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%
DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀常用磁性探頭：FGAB1.3，訂貨號：604-141，測量范圍：0 - 2000 μm（45 mils）。測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%
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