德國EPK 740高精度涂鍍層測厚儀
產品介紹
德國EPK 740高精度涂鍍層測厚儀珠海天創儀器公司可專業維修。本公司所銷售儀器保修期間若出現非人為的質量問題，造成儀器無法使用，我司將負責免費更換，對于輕微損壞儀器則進行免費維修。
若因用戶使用不當造成的配件損壞或產品超過保修期限，我司負責維修，僅適當收取材料費用。
德國EPK 740高精度涂鍍層測厚儀，該產品測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯。
EPK 740高精度涂鍍層測厚儀增加了測量速度設置選項
EPK 740高精度涂鍍層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數值；也可以只測量少數幾個數值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在限范圍內用綠色LED燈表示，超過限值則用紅色LED燈提示。
EPK 740高精度涂鍍層測厚儀使用簡單方便
EPK 740高精度涂鍍層測厚儀按照人體工學設計，外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性，EPK 740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。EPK 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內容可以180度旋轉，方便您讀取數據。
EPK 740高精度涂鍍層測厚儀預設選項節省您的時間和金錢。
所有EPK 700探頭都可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節省您的時間和金錢，儀器預設了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應銷售需要，EPK 700滿足各種標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
優點一覽：
SIDSP使測量不受干擾，測值更加
可更換探頭使用更加靈活（EPK 740探頭可由內置換為外置）
FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
讀數和統計值能單獨調出
超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
菜單指引操作，25種語言可選
帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
可下載更新軟件
技術數據表
SIDSP探頭
探頭 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內部32位信號處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
小曲率半徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
單值模式下 大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
?技術參數
型號 | EPK 720 | EPK 730 | EPK 740 |
探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | 多10,000個 | 多10,000個 | 多100,000個 |
統計值 | 讀值個數， 小值， 大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置） | ||
校準程序符合標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
限值監控 | 聲、光報警提示超過限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |
標準配置：
帶塑料手提箱，內含：
EPK 720(內置探頭)
或EPK 730（外置探頭）
或EPK740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
校準套裝含校準片和零板
操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
2節AA電池
配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
珠海天創儀器有限公司承諾：
1.產品的報價 詢價
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