產(chǎn)品名稱：勞厄背散射技術(shù)測量晶體定制

產(chǎn)品描述：背散射實(shí)時(shí)晶體定向精度可以控制在度精度偏差，軟件測量誤差可以下降到度以下。如果樣品太厚或太大，X射線無法穿透，LAUE后向散射模式記錄X射線散射的廣譜源，這是很有用的。晶體中的衍射平面是通過知道衍射平面的法向平分入射光束和衍射光束之間的夾角來確定的，晶體取向是由斑點(diǎn)的位置決定的。每個(gè)斑點(diǎn)都可以被索引，也就是說，使用特殊的圖表將其歸因于一個(gè)特定的平面。Laue技術(shù)也可用于從斑點(diǎn)的大小和形狀評估晶體的完整性。如果晶體被彎曲或扭曲，這些斑點(diǎn)就會變形和雜亂。由于現(xiàn)代同步加速器和實(shí)驗(yàn)室光學(xué)系統(tǒng)能夠提供微米量級直接的光束，因此可以在拉伸樣品前后多晶合金中提取單個(gè)晶粒的取向和應(yīng)變分布。該解決方案在工業(yè)應(yīng)用中取代膠片勞厄系統(tǒng)；例如，監(jiān)測由單晶高級合金制成的高性能渦輪葉片的缺陷。"以避免葉片在高溫下的抗蠕變性差和失效。勞厄法可以用來確定大單晶的取向。白色輻射從固定晶體反射或透過固定晶體。衍射光束形成一組點(diǎn)，這些點(diǎn)位于膠片的曲線上。布拉格角對于晶體中的每一組平面都是固定的。