鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
Ux-720濾光系統和準直系統
濾光系統采用金屬薄片濾光技術,5種不同材質濾光片自動切換。
準直系統采用微孔準直技術, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四種孔徑自動切換。
濾光系統和準直系統經過自由組合達到測試效果。
Ux-720 儀器技術指標
1、分析元素范圍:Na-U
2、檢測成分范圍:%
3、檢測厚度:1nm
4、檢測厚度上限,30 - 50um(視材料而定)
5、檢測鍍層層數:1-10層
6、測量時間 :30-150s ( 系統自動調整 )
7、分辨率:145±5eV
8、準直器:Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片:5種濾光片自動切換
10、CCD觀察:260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍:XY15mm
12、儀器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm
13、樣品腔尺寸:300*360*100mm;
14、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
15、額定功率:350W
16、重量:約45Kg
17、工作環境溫度:溫度15—30℃
18、工作環境相對濕度:≤85%(不結露)
19、穩定性:多次測量重復性誤差小于%
Ux-720探測系統
功能:對樣品特征X射線進行探測,將采集來的信號進行數據處理,并將處理結果傳輸給計算機。
類型:Si-PIN X-123(美國)
Be窗 1mil()
分辨率:145±5eV
系統峰背比:≥ 6200/1
能量響應范圍:1keV — 40keV
推薦計數率:5000cps




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