二手鍍層測(cè)厚儀器、二手電鍍測(cè)厚儀、金屬鍍層測(cè)試儀-鍍層厚度測(cè)量，X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

　　Ux-720探測(cè)系統(tǒng)

　　功能：對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè)，將采集來的信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，并將處理結(jié)果傳輸給計(jì)算機(jī)。

　　類型：Si-PIN X-123(美國(guó))

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1

　　能量響應(yīng)范圍：1keV — 40keV

　　推薦計(jì)數(shù)率：5000cps

　　隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。

　　Ux-720微動(dòng)平臺(tái)

　　載物測(cè)試平臺(tái)，微調(diào)裝置在儀器右側(cè)，通過旋轉(zhuǎn)按鈕來調(diào)節(jié)樣品的移動(dòng)，移動(dòng)范圍為X軸和Y軸各15mm。結(jié)合260萬像素的高清CCD，對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行定位，防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動(dòng)而使測(cè)試位置發(fā)生變化導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確。