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　　Ux-720探測系統

　　功能：對樣品特征X射線進行探測，將采集來的信號進行數據處理，并將處理結果傳輸給計算機。

　　類型：Si-PIN X-123(美國)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系統峰背比：≥ 6200/1

　　能量響應范圍：1keV — 40keV

　　推薦計數率：5000cps

　　Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是華唯公司經過3年研發，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；華唯的VisualFp基本參數法分析軟件，可盲測（即：無需標準樣品標定），即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析，降低客戶購買標準樣品（尤其是特殊樣品）成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。