德國EPK MINITEST 720 涂層測厚儀 膜厚計
創新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
SIDSP技術-技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢
標準配置： 配件:
帶塑料手提箱，內含： - F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720（內置探頭）
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節AA電池
技術數據表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內部32位信號處理（SIDSP） | |||||
精確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
主機
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統計值 | 讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置） | ||
校準程序符合標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
極限值監控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |
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