Surfix FN外置探頭兩用統計型測厚儀膜厚儀膜厚計
特點：
l 德國PHYNIX公司制造
l 碳化鎢超耐磨測頭,快反應速度
l 同屏顯示統計數據
l 可存儲前200測值
l 可測鐵基體上涂鍍層和有色金屬
l 基體上涂層,量程1500μm
l 精度±1μm+1%讀數.分辨率0.1μm,讀數背景光
l 有紅外可接PC及打印機
技術參數：
測量范圍 | 0-1500µm,0 - 60mils |
誤差 | ±（1µm+1%讀數） |
分辨率 | 0.1µm或小于讀數的2% |
顯示 | 背光，字母加數字，10mm高，4位數字顯示 |
基體小面積 | 5mmX5mm |
基體小曲率 | 凸面：1.5mm 凹面：5mm |
基體小厚度 | F型：0.2mm ,N型： 50µm |
校準 | 廠家校準，零校準，校準箔校準 |
數據統計（統計型） | 讀數個數（多9999個），平均值，標準偏差，大值和小值 |
數據存儲（統計型） | 多200個測量數值,可單獨調出 |
數據值（統計型） | 上下限可調,聲音報警 |
數據接口 | 紅外通訊,IrDA標準 |
環境溫度/表面溫度 | 0-50℃/60℃（可選配150℃） |
電源 | 兩節1.5伏五號堿性電池 |
儀器尺寸 | 137x66x23mm |
符合標準 | DIN，ISO，ASTM，BS |
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