Equotip Piccolo 2 便攜式硬度計

Equotip Piccolo / Bambino 2便攜式硬度計?

結構小巧、外殼堅固的高集成一體式里氏硬度檢測儀。非常適合快速現場硬度檢測。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數據傳送至電腦。

Proceq 的 Equotip 可對幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進行檢測。使用動態回彈檢測方法（依照 Leeb）、靜態 Portable Rockwell 硬度檢測和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進行硬度測量。

京海興樂科技（北京）有限公司提供探傷儀儀器維修，產品計量，技術培訓，產品說明書,產品配件等。；服務范圍：船舶及船用產品的超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產品。(奧林巴斯/汕超/美國GE/達高特/中科漢威/友聯/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產品。

Equotip 便攜式金屬硬度檢測儀，里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗（UCI)

Equotip 便攜式硬度檢測儀

打破固定臺式硬度檢測的局限性

Proceq 的 Equotip 可對幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進行檢測。使用動態回彈檢測方法（依照 Leeb）、靜態 Portable Rockwell 硬度檢測和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進行硬度測量。這一瑞士制造的硬度檢測儀外殼堅固，設計為在實驗室、工場、生產設備或現場進行便攜式硬度檢測。這款來自 Proceq 的全新上市的產品帶來 Equotip Live In 解決方案:使用藍牙與 iOS 應用連接和的同步技術。

自 Proceq 在 1975 年發明了 Leeb 測量原理以來，Equotip 已經成為便攜式硬度檢測方面被廣泛認可的測量技術和實際的行業標準。可選擇不同量程范圍沖擊裝置和測試塊及配件，涵蓋了絕大部分應用。

型號

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

產品描述	Equotip Live UCI 便攜式硬度測量計讓團隊間的合作變得無比便捷。Equotip iOS app為您即時記錄和分析測量數據并且隨時分享給您遠程的團隊。	隨著無線EquotipLive Leeb D 型沖擊裝置和直觀的Equotip程序你可以測量和收集任何硬度數據表。通過自動同步功能啟用數據的全局傳輸，并且可以通過電子郵件和其他渠道共享報告。功能包括一個安全的網絡平臺–集中報告模板和檔案管理，以及完整的數據跟蹤，記錄和連續的云備份防止數據丟失。Equotip Live 所有權是為初的設立捐款和每月的小額費用提供的——這保留了商業資本，同時允許精確的現金流管理。該軟件包包括免費應用程序和更新，加上云備份，以及更換成本低。	靈活的 UCI 硬度檢測儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細粒材料。獲得可調節檢測，可負載和涵蓋廣泛的測試范圍。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。	用于刮擦敏感、拋光及細小部件的便攜洛氏硬度檢測儀。它通過微米級的細小穿透，具有的靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。	功能齊全的里氏硬度檢測儀適用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。堅固的觸摸屏設計提供的用戶體驗以及高質量的測量和數據分析。增強的軟件功能和分析功能。	結構小巧、外殼堅固的高集成一體式里氏硬度檢測儀。非常適合快速現場硬度檢測。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數據傳送至電腦。

優勢	無線 UCI 探頭即時分享您的測量和報告實現完整數據可追溯性的記錄表	無線沖擊裝置和簡潔的用戶界面輕松地在世界范圍內實時共享測量和報告全數據的可追溯性記錄和媒體添加	與 Leeb 和 Portable Rockwell 相結合屏幕反饋以減少由操作員引起的測量誤差內置*的報告功能，隨時準備好可用的數據資料	與 Leeb 和 UCI 相結合與固定式 Rockwell 硬度檢測儀同樣可靠、準確和標準化，但比之更快內置*的報告功能，隨時準備好可用的數據資料	可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結合具有所有 Equotip 產品倍受肯定的高精度內置*的報告功能，隨時準備好可用的數據資料	快速現場檢測的入門級型號緊湊外殼和自動角度糾正便于靈活使用具有所有 Equotip 產品倍受肯定的高精度
默認單位	HV (UCI)	HL	HV (UCI)	μm, µinch	HL	HL
可用單位	HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA	HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA	HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA	HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA（僅 Equotip Piccolo 2）
可用探頭	具有從 HV1 至 HV10 可調節測試負載的通用探頭	Leeb D	UCI（可調節 HV1 – HV5）	Portable Rockwell (50N)	Leeb D / DC / DL / S / E / G / C	Leeb D / DL
與其他方法相結合	否		Leeb，Portable Rockwell	Leeb，UCI	Portable Rockwell，UCI
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)	12.5 / 500	2 / 80	12.5 / 500	2 / 80	7 / 275 (Leeb G)	2 / 80
小質量 (kg/lbs)	0.3 / 0.66	0.05 / 0.2	0.3 / 0.66	無要求	0.02 / 0.045 (Leeb C)	0.05 / 0.2
小厚度 (mm/inch)	5 / 0.2	3 / 0.12	5 / 0.2	10 x 壓入深度	1 / 0.04 (Leeb C)	3 / 0.12

應用

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

標準到大對象
圓形對象	與支撐環結合使用	與支撐環結合使用	與支撐環結合使用
輕薄對象		帶有沖擊裝置 Leeb C
非常堅硬的對象		帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E
鑄件		帶有沖擊裝置 Leeb G
拋光的對象		帶有沖擊裝置 Leeb C
不易接觸		帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL	帶有沖擊裝置 Leeb DL
細小對象
熱處理表面
其他應用	適合物聯網 (IoT) 和工業 4.0 環境法蘭, 發動機組, 軸, 齒輪, 起落架, 紙卷檢測, 線圈, 鋼筋, 管道與熱處理

功能

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

儀器固件	iOS 應用包括免費更新（以了解兼容性信息）帶預定義快捷方式的熱點讀數的音頻輸出，將手機置于口袋亦可聽到屏幕指南沖擊方向自動補償驗證和校準信息以獲得更高的可靠性	iOS應用程序，包括免費更新。獲取兼容性信息。預定快捷鍵讀數的音頻輸出，將手機置于口袋亦可聽到屏幕指南沖擊方向自動修正驗證和校準信息以獲得更高的可靠性	剖面視圖一步校準沖擊方向自動補償個性化用戶資料和視圖集成至自動測試環境中（包括遠程控制）支持 11 種語言和時區	個性化用戶資料和視圖集成至自動測試環境中（包括遠程控制）支持 11 種語言和時區	沖擊方向自動修正個性化用戶資料和視圖集成至自動測試環境中（包括遠程控制）支持 11 種語言和時區	沖擊方向自動修正集成至自動測試環境中（包括遠程控制）：僅 Equotip Piccolo 2 無需設置語言
PC 軟件	基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案	基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案	Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告	Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告	Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告	Piccolink 軟件（僅 Equotip Piccolo 2）
顯示屏	任何 iOS 設備（交貨時并未包括）	任何 iOS 設備（交貨時并未包括）	7”堅固的彩色觸摸屏裝置（800 x 480 像素），雙核處理器	7“帶雙核處理器的彩色堅固的觸摸屏裝置（800×480像素）	7“帶雙核處理器的彩色堅固的觸摸屏裝置（800×480像素）	單色 4 位數字
內存	iOS 設備的內存	iOS 設備的內存	內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值）	內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值）	內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值）	32 KB（大約 2000 個讀數）（ Equotip Piccolo 2）
連接	用于充電和更新的 USB	用于充電和更新的USB	USB 主機/設備和以太網	USB 主機/設備和以太網	USB 主機/設備和以太網	至 PC 的 USB 接口
測量范圍	20 – 2000 HV	150 - 950 HL	20 – 2000 HV	0-100 µm；19-70 HRC；35-1‘000 HV	150 – 950 HL	150 - 950 HL
測量精度	± 2% (150 – 950 HV)	± 4 HL（800 HL 時為 0.5%）	± 2% (150 – 950 HV)	± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC	± 4 HL（800 HL 時為 0.5%）	± 4 HL（800 HL 時為 0.5%）

標準化

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

標準	ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 JB/T 9378 GB/T 17394 DIN 50156	ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	DIN 50157	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378
準則	DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 ASME CRTD-91	ASME CRTD-91 DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 Nordtest 技術報告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 Nordtest 技術報告 424-1, 424-2, 424-3	DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 Nordtest 技術報告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 Nordtest 技術報告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準則 MC 1 VDI / VDE 準則 2616 文件 1 Nordtest 技術報告 424-1, 424-2, 424-3

配件

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

測量配件

Equotip Live Basic Leeb D 沖擊裝置 (358 00 101)
支撐環組件 (353 03 000)
適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環組（12 件裝）

Equotip UCI 探頭 HV1-HV5 (356 00 700)
Equotip UCI 特殊腳 (356 00 720)
電池組 (327 01 033)
快速充電器（外置）(327 01 053)
特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)

Equotip Portable Rockwell 探頭 50N（適用于 Equotip 550 或 PC）(356 00 600)
Equotip Portable Rockwell 測量夾 (354 01 200)
Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 18 mm - 70 mm (354 01 250)
Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 70 mm - ∞ (354 01 253)
電池組 (327 01 033)
快速充電器（外置）(327 01 053)
特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021)

Equotip Leeb 沖擊裝置 D (356 00 100)
Equotip Leeb 沖擊裝置 E (356 00 400)
Equotip Leeb 沖擊裝置 G (356 00 300)
適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環組（12 件裝） (353 03 000)
電池組 (327 01 033)
Equotip Leeb 沖擊裝置 S
Equotip Leeb 沖擊裝置 DL
快速充電器（外置）(327 01 053)
特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)