Panametrics 35超聲波測厚儀

Panametrics 35超聲波測厚儀在大多數應用中都可應用35型和35DL型
35型和35DL型使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

Panametrics 35應用

? 從薄到厚的大多數材料
? 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
? 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
? 汽缸孔、渦輪葉片
? 玻璃燈泡、瓶子
? 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
? 半徑較小的曲面部分或容器
? 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸

利用減縮率，可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。

Panametrics 35減縮率測量

美國泛美所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。

 Panametrics 35材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關系的應用中，這個標準功能非常有用。典型應用包括監測金屬鑄件的球化程度，以及監測復合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數字卡尺，用于自動傳輸測量厚度值。

Panametrics 35自動調用功能可簡化測量操作
自動調用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時，35型儀器都可調用相關內置探頭的所有參數。
Panametrics 35存儲的標準設置標準設置包括大多數常用的探頭。
Panametrics 35存儲的自定義設置在標準設置不能滿足特殊的應用需求時，這些測厚儀可以創建、存儲和調用多達20個自定義設置（35型和35HP型可調用10個自定義設置）

Panametrics 35配合M208探頭應用

渡越時間測量范圍：0.0 µs～109.5 µs
渡越時間分辨率：固定在000.01 µs。
測量更新速率：4、8、16或zui大頻率值（16～20 Hz，因應用和測量模式不同而不同）。
探頭頻率范圍：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）
zui小/zui大模式：顯示當前厚度、zui小厚度或zui大厚度（視設置而定）。
顯示保持/空白：顯示上一個讀數后，屏幕顯示空白或者持續顯示這個讀數。
報警模式：可編程高/低報警設定點，帶有視聽報警指示器。

差分模式：顯示實際測量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式：顯示厚度數值及實測厚度與參考厚度的百分比差值。
自動調用功能：自動為各種默認的和自定義的探頭設置調節內部參數。

Panametrics 35標準附件
手腕帶、3節AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導手冊、兩年有限保修。

Panametrics 35圖片