Agilent 4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供 可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產

率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行 測量。

生產率高，質量可靠

4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處優良的測試重復性還可以 提高生

產率，因為所需的取平均過程非常短。

系統組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速

GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試

質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和轉APC-7

適配器聯用，從而無需制作 夾具。