島津半微量分析天平AUW-D

詳情介紹如下：
一.分析天平簡介：
210g/0.1分析天平是集精確、穩定、多功能與自動化于一體的電子天平，可以滿足所有實驗室質
量分析要求。該天平采用電磁平衡式傳感器技術來進行開發研制的，以確保天平稱量結果高精確度，并具有
RS232C標準的信號輸出口，可直接連接打印機、計算機等設備來擴展天平的使用,使您的稱量分析更加現代化
，工作更輕松。
二.電子分析天平結構：
人性化設計，結構新穎，五面全透明超白玻璃風罩，性能。
新一代電磁式稱量傳感器，使產品的精度有了可靠保障。
超大帶背光液光顯示屏顯示，使操作者視覺更柔和、清晰。內置式下稱吊鉤。
三.電子分析天平操作前準備
·拆箱后，除去一切包裝，取出風罩內風罩位置上的緩沖海綿，裝好秤盤。
·將天平置于穩定的工作臺上，避免震動、陽光照射和氣流。
·工作環境溫度：Ⅰ 級天平為20℃±2.5℃，其溫度波動不大于1℃/h；
·Ⅱ級天平為20℃±7.5℃，其溫度波動不大于5℃/h。
·相對濕度:Ⅰ級天平50%～75%;Ⅱ級天平50%～80%。
·工作電壓為：220V±V、50Hz。 

島津半微量分析天平AUW-D

四.210g/0.1分析天平 [FA(N)/JA(N)]
1.FA（N）/JA（N）系列性能特點：
2.自動故障檢測功能，RS-232C輸出接口
3.零位跟蹤，全新外型
4.STN寬視角背光液晶顯示，具有*性能、價格比

FA(N)型號
zui大稱量（g）：       110—210
精度（mg）：           0.1
秤盤尺寸（￠）：      90
JA(N)
zui大稱量（g）：       110—1000
精度（mg）：           1
秤盤尺寸（￠）：      90—110
五.電子分析天平誤差來源分析：
1.裝置誤差
用來以固定形式復現標準量值的標準量具、進行測量時使用的儀器或儀表以及儀器的附近及附屬設備不可避免地都含有誤差。
2.環境誤差
由于各種環境因素與要求的標準狀態不，而引起的測量裝置和被測量本身的變化所造成的誤差，如溫度、濕度、氣壓(引起空氣各部分的擾動)、振動、電磁場、光線等引起的誤差。通常電子天平儀器儀表在規定條件下使用產生的示值誤差稱為基本誤差，超出此條件使用引起的誤差稱為附加誤差。
3.方法誤差
方法誤差有許多種情況，如由于采用近似的測量方法而造成的誤差；又如測量圓軸直徑d采用測其圓周長s，然后用 計算的方法，由于 取值不同會引起誤差。由于測量方法錯誤而引起的誤差，如測量儀表安裝使用方法不正確。方法誤差還包括測量時所依據的原理不正確而產生的誤差。
4.人員誤差
由于測量者受分辨力的限制，因工作疲勞引起的視覺器官的生理變化、反應速度及固有習慣引起的誤差，以及精神上的一時疏忽所引起的誤差。 
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