晶體振蕩器的主要特性之一是工作溫度內(nèi)的穩(wěn)定性，它是決定振蕩器價格的重要因素。穩(wěn)定性愈高或溫度范圍愈寬，器件的價格亦愈高。工業(yè)級標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的-40～ 75℃這個范圍往往只是出于設(shè)計者們的習(xí)慣，倘若-30～ 70℃已經(jīng)夠用，那么就不必去追求更寬的溫度范圍。設(shè)計要慎密決定特定應(yīng)用的實(shí)際需要，然后規(guī)定振蕩器的穩(wěn)定度。指標(biāo)過高意味著花錢愈多。晶體老化是造成頻率變化的又一重要因素。根據(jù)目標(biāo)產(chǎn)品的預(yù)期壽命不同，有多種方法可以減弱這種影響。晶體老化會使輸出頻率按照對數(shù)曲線發(fā)生變化，也就是說在產(chǎn)品使用的年，這種現(xiàn)象才為顯著。例如，使用10年以上的晶體，其老化速度大約是年的3倍。采用的晶體加工工藝可以改善這種情況，也可以采用調(diào)節(jié)的辦法解決，比如，可以在控制引腳上施加電壓（即增加電壓控制功能）等。

　　恒溫晶體振蕩器簡稱恒溫晶振，英文簡稱為OCXO(Oven Controlled Crystal Oscillator)。詳解恒溫晶振的調(diào)試：

　　1)每一個單獨(dú)指標(biāo)必須單獨(dú)測試，不能同時測試幾種指標(biāo)，也不能同時測試幾只晶振。

　　2)測試時要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測試電路和測試環(huán)境進(jìn)行測試。

　　3)在沒有相當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備和測試人員的情況下，不建議客戶自行測試晶振，更不能隨意調(diào)試晶振，測試設(shè)備的等級應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個數(shù)量級。

　　4)對不同廠家的產(chǎn)品，尤其是來自不同國家的產(chǎn)品，有一些指標(biāo)的測試方法不盡相同，應(yīng)提前了解各廠家的異同點(diǎn)，統(tǒng)一意見，以減少不必要的麻煩。

　　5)對一些短期指標(biāo)如頻率精度，開機(jī)特性等，應(yīng)多做幾次重復(fù)的測試，以減少測試結(jié)果的偶然性。

　　晶振有一個重要的參數(shù)，那就是負(fù)載電容值，選擇與負(fù)載電容值相等的并聯(lián)電容,就可以得到晶振標(biāo)稱的諧振頻率。

　　晶體振蕩器實(shí)際應(yīng)用的環(huán)境需要慎重考慮。例如，高強(qiáng)度的振動或沖擊會給振蕩器帶來問題。除了可能產(chǎn)生物理損壞，振動或沖擊可在某些頻率下引起錯誤的動作。這些外部感應(yīng)的擾動會產(chǎn)生頻率跳動、增加噪聲份量以及間歇性振蕩器失效。對于要求EMI兼容的應(yīng)用，EMI是另一個要優(yōu)先考慮的問題。除了采用合適的PC母板布局技術(shù)，重要的是選擇可提供輻射量小的時鐘振蕩器。一般來說，具有較慢上升/下降時間的振蕩器呈現(xiàn)較好的EMI特性。