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臨沂泰斗檢測儀器有限公司
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MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:
  • 品牌:
  • 產品類別:測厚儀
  • 所在地:臨沂市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2022-10-20 15:57:29
  • 瀏覽次數:3
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臨沂泰斗檢測儀器有限公司

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  • 經營模式:其他
  • 商鋪產品:1233條
  • 所在地區:山東臨沂市
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  • 最近登錄:2022-10-20
  • 聯系人:孫鳳翠 (經理)
  • 電    話:15069945468

產品簡介

MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。

詳情介紹

MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀

產品特點

輕松讀取:可存入測量數據600個,對測量中的單個可疑數據進行刪除,也可以刪除存儲區內的所有數據,讀出已存入的測量數據。

1、測量范圍:

MC-2000 A 型測量范圍:0-1500um
MC-2000 C 型測量范圍:0-5000um
MC-2000 D 型測量范圍:10-9000um 
可訂做管道內涂(鍍)層測頭,30mm管徑以上

MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀

 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。

 

2、測量誤差:  <3%±1um

3、zui小示值:  1um

4、顯示方式: 4位液晶數字顯示

 

、MC-2000C涂層測厚儀產品性能

 

1、測量范圍:  0~5000um

2、測量誤差:  <3%±1um

3、zui小示值:  1um

4、顯示方式:    4位液晶數字顯示

5、主要功能:

   (1).測量:      單探頭全量程測厚

   (2).存儲、刪除: 可存入測量數據600個,對測量中的單個可疑數據進行刪除,也可以刪除存儲區內的所有數據。

   (3).讀:  讀出已存入的測量數據

   (4).統計: 設有三個統計量,平均值zui大值zui小值

   (5).校準: 可進行系統校準

   (6).電量: 具有欠壓顯示功能

   (7).打印: 可打印測量值,選配微型打印機

   (8).關機: 具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源:         兩節1.5v電池

7、功耗:         zui大功耗100mw

8、外形盡寸:     51mm126mm27mm

9、重量:      160g(含電池)

10、使用環境溫度: 0℃~+40℃  相對濕度:不大于90%

11、基體zui小厚度:     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑:   7mm

13、zui小曲率半徑:     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示:       右上角顯示""

臨界厚度小:工件鐵基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度 

高精度涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。  ◆磁性法(f型測頭):當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。  ◆渦流法(n型測頭):利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

高精度涂層測厚儀(多用型)是一種多功能實用型便攜式測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。通過使用不同的測頭,還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業的儀器。

 

的使用方法

使用涂層測厚儀時應當遵守的規定:
a基體金屬特性對于磁性方法,規范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,規范片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
c邊緣效應不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d曲率不應在試件的彎曲外表上測量。
e讀數次數通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必需在每一測量面積內取幾個讀數。
覆蓋層厚度的局部差別,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,外表粗造時更應如此。
f外表清潔度丈量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。

 

 

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