KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統
聲學顯微成像系統和光學顯微成像系統的結合
- 換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率
- 探測深度- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性。
- 光聲效應增強了對比性
- 放大倍數:1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調節
深圳市科時達電子科技有限公司
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KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統聲學顯微成像系統和光學顯微成像系統的結合-換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率-探測深度-特殊平均模式使信噪比更好-同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性
KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統
聲學顯微成像系統和光學顯微成像系統的結合
- 換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率
- 探測深度- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性。
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