超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100

"Regulus系列"是日立的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升級 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。




掃描電子顯微鏡（SEM）被廣泛應用于納米技術，半導體?電子行業，生命科學，材料科學等領域的材料結構觀察。近年來，新一代的電子器件應用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復合材料等的研究作為*科學技術的中堅技術，在范圍內受到熱捧。掃描電子顯微鏡廣泛用于這些材料的觀察?評價，但僅僅具有超高分辨率還遠遠不夠。還要求能在低加速電壓下對表面細微結構的觀察和高靈敏度的元素分析。除此之外，在長期的研究過程中還追求電鏡的性能的持續穩定和信賴性。