CT 掃描逆向工程 METROTOM -800 CT測量技術數據化 光學三維射線
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量值，并以圖形方式突出顯示二者之間的差異。它可以檢查比單用 CMM 檢測對象更小的零件以及多零件組件，而 CMM 根本無法檢查。此外，CT METROTOM 掃描可以結合進行內外部測量。通過這些方式，它能完成 CMM 和普通 CT 等其它系統無法完成的任務。
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