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深圳維爾克斯光電有限公司
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Phasics公司Kaleo光學傳遞函數測量儀

產品二維碼
參  考  價:¥ 10
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:Kaleo MTF Measurement Station
  • 品牌:
  • 產品類別:棱鏡/透鏡
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-06-12 15:57:41
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深圳維爾克斯光電有限公司

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  • 經營模式:其他
  • 商鋪產品:440條
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產品簡介

Phasics,MTF測試儀,KaleoMTF測試平臺,傳函測量,光學傳遞函數測量儀,KaleoMTF 法國Phasics公司提供Kaleo光學傳遞函數測量儀,其能提供透鏡特性測試方案,包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試

詳情介紹

Phasics,MTF測試儀,Kaleo MTF 測試平臺,傳函測量,光學傳遞函數測量儀,Kaleo MTF

法國 Phasics公司提供Kaleo光學傳遞函數測量儀,其能提供透鏡特性測試方案,包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試。這個系列的MTF測試儀可用于鏡頭測試,光學表面測試。Kaleo IR紅外透鏡的質量控制及測試系統,提供多個紅外波長的測試方案。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發的特點是多個波長下進行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款質量控制測試儀。


Kaleo IR波前傳感器產品介紹:

該產品使得紅外透鏡的質量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR,SWIR,MWIR或LWIR區域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

MTF測試儀可測參數:

-MTF函數

-波前誤差和像差

-多波長測試

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹:

Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF,畸變,EFL等方式來測量像差(澤尼克系數)。依據鏡頭的出瞳參數,計算并測量透鏡的離軸參數。 該工作臺利用Phasics提供的質量控制技術,具有易用性和多功能性。

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點

-400至1100nm的6個波長

-在不同的方位角的測試

Kaleo-I傳函測量儀介紹:

儀器是專為屈光(球面,非球面,復曲面或雙焦點)的質量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器,它可以實現快速而可靠的測量。在生產中,它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF,包括模型眼。對于研發而言,它還提供了許多額外的結果,例如通過焦點的MTF和球差的像差。

鏡頭質量控制平臺Kaleo-I的特點:

-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示

-單個鏡頭和批次自動報告

-試管和模型眼

-快速的計算機輔助對準(僅對中)

Kaleo光學傳遞函數測量儀產品介紹:

Phasics可提供透鏡特性測試方案:離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics技術,即使在大視野(FoV)時也可以提供準確的結果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數測量儀可通過一次采集即可提供測試參數輸出。

市場:汽車行業| ADAS | 監視和安全| |


Phasics Kaleo MTF測試平臺的特點:

-單次測量,MTF測量高達截止頻率,精度類似于干涉測量法

-的準直光源,經濟解決方案

-無需重新校準離軸測量,自動對焦,易于校準和多種應用

-幾種不同的波長(默認為RGB + IR),在幾個方位角處測量

-全自動測量過程

Phasics MTF光學傳遞函數測量儀可測的參數

-軸上和軸外MTF,通過焦點MTF

-傳輸的波前錯誤,Zernike多項式

-鏡頭參數:EFL,F#,OPD在鏡頭出口瞳孔

-散光,圖像失真,場曲率

-相對照度曲線

法國Phasics 鏡頭測試系統的具體參數:

參數

參數值

光學設置

有限到配置

波長范圍

400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm

入瞳直徑

Up to 8.8 mm

F#

> 1.8 mm

Flange焦距

8 to 30 mm

焦距范圍

5 to 500 mm

視場角

Up to ±120°

MTF on-axis

準確性<1% - 重復性 <0.5%

MTF off-axis

準確性<2% -重復性 <1%

MTF度

LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02

MTF重復性

LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01

失真

準確性<0.5% - 重復性 <0.05%

場曲率

準確性<5µm - 重復性 <1µm

OPD(光程差)軸上

準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm rms




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