2602B 是 Keithley 的 40 瓦源表。源表儀器是一種電子測試設備，可測量和記錄的電壓和電流數據。源儀表以收集信息，非常適合電流電壓 (IV) 表征、半導體測試以及具有正電流源值和負電流源值的測試設備。

特征：

• 40V、3A、40W 雙通道型號，80W 功率輸出

• 緊密集成的 4 象限電壓/電流源和測量儀器以 6 ? 位分辨率提供的性能

• 內置的基于 Java 的測試軟件可通過任何瀏覽器實現真正的即插即用 I/V 表征和測試。

• TSP（測試腳本處理）技術將測試程序嵌入儀器內部，以實現的系統級吞吐量

• 無需主機的多通道并行測試的 TSP-Link 擴展技術

• 吉時利 2400 型數字源表 SMU 儀器的軟件仿真

• USB 、LXI-C、GPIB、RS-232 和數字 I/O 接口

• 免費軟件驅動程序和開發/調試工具

• 可選的 ACS-Basic 半導體元件表征軟件

提供的配件：

• 操作員和編程手冊

• 2600-ALG-2：帶鱷魚夾的低噪聲三同軸電纜，2m（ 英尺）（2634B 和 2636B 隨附兩根，2635B 隨附一根）

• 2600 套件：帶應力消除裝置和蓋板的配套螺釘端子連接器 (2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B)

• CA-180-3A：TSP-Link/以太網電纜（每臺兩根）

• TSP Express 軟件工具（嵌入式）

• 測試腳本生成器軟件（以 CD 形式提供）

• LabVIEW驅動程序

• 
  
  

• ACS 基礎版軟件（可選）

2600B 系列系統源表 SMU 儀器是的電流/電壓源和測量解決方案，采用吉時利的第三代 SMU 技術構建。2600B 系列提供單通道和雙通道型號，將電源、真正的電流源、6-1/2 位數字萬用表、任意波形發生器、脈沖發生器和電子負載的功能結合到一個緊密集成的儀器中. 結果是一個*的解決方案，可顯著提高從臺式 I/V 表征到高度自動化的生產測試等應用的生產力。對于臺式使用，2600B 系列儀器具有內置的基于 Java 的軟件，可以通過任何瀏覽器、任何計算機、在世界任何地方進行即插即用 I/V 測試。對于自動化系統應用，2600B 系列的測試腳本處理器 (TSP) 從儀器內部運行測試程序，以獲得的吞吐量。在更大的多通道應用中，吉時利的 TSP-Link 技術與 TSP 協同工作以實現高速、SMU-per-pin 并行測試。由于 2600B 系列數字源表 SMU 儀器具有隔離的通道，不需要大型機，因此可以隨著您的測試應用程序的發展輕松地重新配置和重新部署它們。

基于 Java 的即插即用 I/V 測試軟件

2600B 系列是具有內置基于 Java 的測試軟件的 SMU 儀器，該軟件可在世界任何地方通過任何瀏覽器、任何計算機進行真正的即插即用 I/V 表征。這種的功能可提高研發、教育、QA/FA 等應用的生產力。只需通過提供的 LAN 電纜將 2600B 連接到互聯網，打開瀏覽器，輸入 2600B 的 IP 地址，然后開始測試。生成的數據可以下載到 Excel 等電子表格中，以進行進一步分析和格式化，或包含在其他文檔或演示文稿中。

使用 TSP 技術實現的自動化測試吞吐量

對于需要水平自動化和吞吐量的測試應用，2600B 型的 TSP 技術可提供性能。TSP 技術遠遠超出了傳統的測試命令序列器 它嵌入然后從 SMU 儀器本身執行測試程序。這實際上消除了與 PC 控制器之間的所有耗時的總線通信，從而顯著縮短了整體測試時間。

使用 TSP-Link 技術的 SMU-Per-Pin 并行測試

TSP-Link 是一種通道擴展總線，它使多個 2600B 系列能夠相互連接，并作為一個緊密同步的多通道系統運行。2600B 的 TSP-Link 技術與其 TSP 技術協同工作，可實現高速、SMU-per-pin 并行測試。與大型 ATE 系統等其他高速解決方案不同，2600B 無需大型機的或負擔即可實現并行測試性能。基于 TSP-Link 的系統還具有靈活性，允許在測試要求發生變化時快速輕松地重新配置系統。

2400 型軟件仿真

2600B 系列與為吉時利 2400 型數字源表 SMU 儀器開發的測試代碼兼容。這樣可以更輕松地從基于 2400 型的測試系統升級到 2600B 系列，并且可以將測試速度提高多達 80%。此外，它還提供了從 SCPI 編程到 Keithley 的 TSP 技術的遷移路徑，實施后可以進一步縮短測試時間。為了支持傳統測試系統，2400 型的 Source-Memory-List 測試序列器也支持此模式。

第三代 SMU 儀器設計確保更快的測試時間

基于早期 2600 系列儀器經過驗證的架構，2600B 系列的 SMU 儀器設計以多種方式提高了測試速度。例如，雖然早期設計使用并聯電流測距拓撲，但 2600B 系列使用獲得的串聯測距拓撲，可提供更快、更平滑的量程變化和更快穩定的輸出。

2600B 系列 SMU 儀器設計支持兩種操作模式，適用于各種負載。在正常模式下，SMU 儀器提供高帶寬性能以實現吞吐量。在高電容 (high-C) 模式下，SMU 儀器使用較慢的帶寬來提供具有較高容性負載的穩健性能。

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