使用熱釋光劑量片時需要注意哪些?
1、測量后應將探測器放在金屬盒里或金屬板上;
2、要用清潔的鑷子輕取探測器,切勿用手接觸探測器,以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除,切勿用擦洗再用;
3、熱釋光探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝;
4、放置熱釋光探測器的器具要保持清潔,要用清潔的鑷子輕取探測器,切勿用手接觸探測器;
5、熱釋光探測器在照射后和經過熱處理后盡量放在的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。
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熱釋光的使用
使用熱釋光元件可以重復使用。但是,經核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測量,因為加熱后,儲存的信息就被破壞了,不能復查測量結果。在劑量監測中,萬一某次測量失誤,測量結果就被丟失。要再次使用時,熱釋光體要用高溫退火。對不同材料,退火溫度不相同。如對LiF,要在400℃下保持1h,在該條件下,可使400℃下的所有發光峰陷阱中的電子全部釋放出來,而陷阱能級并不破壞。
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熱釋光探測器的特點
頻率特性好。其他熱探測器都是在熱平衡后輸出較大,工作時輻照時間必須大于熱平衡的時間常數(一般為數 ms 至數十 ms)。而熱釋電探測器,是在非熱平衡狀態下工作的,熱平衡時反而沒有輸出,因此工作時輻照時間必須小于熱平衡時間常數(一般為 0.1~1s)。也就是說它的工作速度不受熱平衡的限制,其頻率的上限主要取決于其等效電容和后續電路。
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