熱釋光劑量片概述

1、重復性：LiF:Mg,Cu,P探測器的重復性能隨使用次數的增加趨于更加穩定，一般均在上百次以上；

2、線性：LiF:Mg,Cu,P探測器線性范圍為10-7～30Gy；

3、長期穩定性：在環境溫度低于40℃的環境下，累積劑量信息的減退在3-6個月內可以忽賂不計，若環境溫度≥50℃時，則其劑量信息的減退約為（3-5）％/月。

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使用熱釋光劑量片時有什么需要注意的？

測 試：使用在相應的熱釋光劑量儀器，開機30分鐘后調準光源靈敏度，使用M2程序（即：升溫速率為15℃/S，恒溫135℃/8S，第二恒溫240℃/12S），空測3次以上后進行測量。

注意事項：禁止用手直接接觸摸探測器，被灰塵污染的探測器要用酒精清洗，酒精揮發后晾干再使用，放通風干燥處，避免光線照射，每批次探測器使用后不能和其它批次探測器混合使用。污染嚴重和退火不正確的探測器做報廢處理。

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熱釋光探測器的依據標準

熱釋光探測器的基本依據是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，產生電離和激發，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導帶，在價帶中剩下空穴。被電離激發的電子空穴在亞穩態能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發），這些缺陷稱為“陷阱"（俘獲電子的缺陷）或“中心"（俘獲空穴的缺陷），統稱為“發光中心"。處于亞穩態能級上的電子和空穴在無外源激發的環境下，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發的電子和空穴數量增加，所以在線性劑量范圍內磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發光中心中逸出，電子和空穴快速復合，或游弋經導帶后與禁帶中的空穴復合。在上述幾種復合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現象稱為熱釋光。

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