熱釋光劑量片簡(jiǎn)介
熱釋光探測(cè)器(簡(jiǎn)稱(chēng)熱釋光劑量片)主要用于X、γ射線的劑量監(jiān)測(cè)。
熱釋光探測(cè)器具有靈敏度高、批均勻性好等特點(diǎn),在核工業(yè)、衛(wèi)生系統(tǒng)、地質(zhì)找礦和石油勘探等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。
主要?jiǎng)┝繉W(xué)持性
1、熱釋發(fā)光曲線: LiF:Mg,Cu,P探測(cè)器在120℃-135℃之間呈現(xiàn)出一個(gè)低溫蜂,在210℃呈現(xiàn)出主劑量峰;
2、相對(duì)靈敏度: LiF:Mg,Cu,P的靈敏度(單位質(zhì)量TL讀數(shù))為T(mén)LD-100的30-50倍;
3、探測(cè)閥:約為2.0×10-7Gy;
4、光子能量響應(yīng):在自由空氣中及標(biāo)準(zhǔn)水體模條件下,對(duì)于光子能量為15keV-3MeV的能響小于土20%;
5、光照效應(yīng):對(duì)于室內(nèi)散射日光、白熾燈光、日光燈無(wú)明顯響應(yīng),對(duì)于直射陽(yáng)光照射則有明顯響應(yīng)。
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熱釋光劑量片的原理
以下內(nèi)容由北京東方圓通科技發(fā)展有限公司為您提供,今天我們來(lái)分享熱釋光劑量片的相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助!
熱釋光劑量片是利用熱致發(fā)光原理測(cè)量核輻射的裝置。具有晶體結(jié)構(gòu)的某些固體,常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來(lái)雜質(zhì)等),它們能吸引異性電荷形成"陷阱"。當(dāng)射線照射時(shí),在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測(cè)時(shí)加熱固體,則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復(fù)合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過(guò)并導(dǎo)至光電倍增管產(chǎn)生光電流,再經(jīng)直流放大器放大,通過(guò)記錄器記錄。
廣泛應(yīng)用于輻射防護(hù)、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、考古學(xué)和環(huán)境保護(hù)等領(lǐng)域,尤其在個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)中被廣泛使用。

熱釋光的發(fā)光曲線
熱釋光的發(fā)光曲線就是動(dòng)力學(xué)模型表達(dá)式的圖形顯示。它具有以下幾個(gè)特征。
1)磷光體的熱釋發(fā)光曲線的形狀(峰數(shù)等)與其能級(jí)及晶格中的缺陷有關(guān)。不同的磷光體具有不同的陷阱能級(jí)。同一磷光體存在著一個(gè)或多個(gè)不同的陷阱能級(jí)。低溫峰對(duì)應(yīng)能量較低的淺陷阱。高溫峰對(duì)應(yīng)能量較高的深陷阱。
2)磷光體的熱釋光強(qiáng)度(發(fā)光峰的高度或發(fā)光峰的面積)與發(fā)光中心的電子、空穴數(shù)有關(guān),而后者取決于所接受照射劑量的大小。在線性劑量范圍內(nèi)磷光體的熱釋光強(qiáng)度與所接受的輻照劑量成正比。
3)磷光體熱發(fā)光曲線的形狀還與其他一些參數(shù)有關(guān),如熱釋光探測(cè)器的光譜響應(yīng)靈敏度、加溫速率以及磷光體和加熱介質(zhì)之間的熱接觸等。
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