HP系列四探針探頭
HP-501型四探針探頭 | HP-504型四探針探頭 |
HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜 等同類物質的薄層電阻。
特性及規格：
1 | 特制之手握式探筆 |
2 | 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷 |
3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞 |
4 | 探頭使用壽命長 |
5 | 探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
型號 | 曲率半徑 | 壓力 | 探針間距 | 探針排列 |
HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直線 |
HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直線 |
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