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LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀 KARL DEUTSCH多功能儀器

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號:LEPTOSKOP 2042
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:其他教學模型/器材
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-07-25 16:01:46
  • 瀏覽次數(shù):4
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  • 商鋪產(chǎn)品:364條
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  • 注冊時間:2023-07-25
  • 最近登錄:2023-07-25
  • 聯(lián)系人:曾經(jīng)理
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產(chǎn)品簡介

LEPTOSKOP2042涂層測厚儀,KARLDEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP2042多功能儀器具有精確的測量技術,操作簡便

詳情介紹

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術,操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現(xiàn)場升級的選項。
系統(tǒng)可定制的涂層測量
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2360)。



LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042應用
可靠的技術與舒適的工具相結合,例如將厚度值顯示為模擬指針,類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇,可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。
LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟型儀器,電池使用壽命超過100小時。
該儀器會記錄操作時間和測量次數(shù),因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設備。
供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護套,并具有防滑保護功能,可在工業(yè)環(huán)境中保護儀器。




PLT200光學轉速計,MONARCH PLT200激光轉速儀特征:
工作范圍可達 25 英尺*(2 級可見激光)
接受遠程接觸組件(可選)
接受遠程傳感器(可選)
TTL 脈沖輸出(需要可選的 6 英尺 BNC 電纜)
自動量程/固定十進制(用戶可選)
英制和公制費率
三腳架安裝襯套
達標和低電量指示
堅固的橡膠外殼
包括 NIST 可追溯校準證書



EPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點:
大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米,帶照明
校準選項:
出廠前已校準,可立即進行測量
在未知涂層上校準*
零位校準*
在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準*
校準涂層材料*
校準數(shù)據(jù)可以單獨存儲在單獨的校準文件中,也可以從那里重新加載。
可選擇的顯示模式,以地適應測量任務*
輸入和監(jiān)控限額*
在Windows?下可以輕松管理文件來存儲讀數(shù)*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統(tǒng)計*
統(tǒng)計評估多達999個讀數(shù)
最小,,平均值,讀數(shù)數(shù)量,標準偏差,限值監(jiān)控
局部厚度和平均涂層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值一目了然



LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型:
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別:
基本 -質量可靠的基本功能
統(tǒng)計 -附加統(tǒng)計評估
統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲 -統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
如果需要,可以隨時將量規(guī)升級到高級和/或專業(yè)級別。升級過程通過代碼執(zhí)行,可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計"和/或“統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲"。如果要為新的測量需求添加功能,則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。


LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術數(shù)據(jù)
串行接口 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
電源 通過電池,USB或電源裝置
測量范圍 0-20000 µm(取決于探頭)
測量率 每秒高達2個讀數(shù)
存儲 9999個讀數(shù)(最多140個文件)
測量不確定度
(校準后) 涂層厚度<100 µm:讀數(shù)的1%+/- 1 µm
涂層厚度> 100 µm:讀數(shù)的1.0.3%+/- 1 µm
涂層厚度> 1000 µm:讀數(shù)的3 5% /-10 µm
涂層厚度> 10000 µm:讀數(shù)的5%+ /- 100 µm



LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件
測試塊和校準箔
探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭
定位輔助 -適用于所有微型探針
PC軟件iCom-用于數(shù)據(jù)傳輸和整個目錄結構的便捷管理
PC軟件EasyExport-用于將單個讀數(shù)或完整文件輕松導出到Windows?程序


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