產品簡介
X熒光鍍層測厚儀簡介精度高、穩定性好 *的數據統計、處理功能 測量范圍寬 NIST認證的標準片 服務及支持
詳情介紹
| X熒光鍍層測厚儀技術參數 | 主要規格 | X熒光鍍層測厚儀規格描述 | X射線激發系統 | 垂直上照式X射線光學系統 | 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 | 裝備有安全防射線光閘 | 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | 準直器程控交換系統 | *多可同時裝配6種規格的準直器 | 多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，*小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) | 在12.7mm聚焦距離時，*大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) | 樣品室 | CMI900 | CMI950 | －樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | －*大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | －XY軸程控移動范圍 | 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 | 300mm x 300mm | －Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm | －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | －樣品觀察系統 | 高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 | 激光自動對焦功能 | 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | 計算機系統配置 | IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 | 分析應用軟件 | 操作系統：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | －測厚范圍 | 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 | －基本分析功能 | 采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 | 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 | | 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | 貴金屬檢測，如Au karat評價 | | 材料和合金元素分析， | 材料鑒別和分類檢測 | 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | 元素光譜定性分析 | －調整和校正功能 | 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移 | －測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot” | 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 | 測量位置預覽功能 | 激光對焦和自動對焦功能 | －樣品臺程控功能 | 設定測量點 | 連續多點測量 | 測量位置預覽(圖表顯示) | | | | | |
－統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、*大值、*小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | 數據庫存儲功能 | 任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | －系統安全監測功能 | Z軸保護傳感器 | 樣品室門開閉傳感器 | 操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師 |
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