巴謝特BXT-DTA1250差熱分析儀

產品介紹:

差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

儀器特點：

1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內核ARM控制器，運算處理速度更快，溫度控制更。

2.采用USB雙向通訊，操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏，界面更友好。

4.采用鎳鉻合金傳感器，更、抗腐蝕、抗氧化。

技術參數:

1.溫度范圍:室溫~1250℃

2.量程范圍: 0～±2000μV

3. DTA精度: μV

4.升溫速率: 1～80℃/min

5.溫度分辨率: ℃

6.溫度準確度: ±℃

7.溫度重復性: ±℃

8.溫度控制:升溫：程序控制 可根據需要進行參數的調整

恒溫：程序控制 恒溫時間任意設定

9.爐體結構:爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精度高，易于操作

10.氣氛控制:內部程序自動切換

11.數據接口:標準USB接口 配套數據線和操作軟件

12.顯示方式: 24bit色7寸LCD觸摸屏顯示

13.參數標準:配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正

14.基線調整:用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線

15.工作電源: AC 220V 50Hz