特色
SPD2200具備全光譜性能測試包含:
*全光譜光譜響應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)
*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗計數(shù)DCR (Dark Count Rate)
*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有優(yōu)秀光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光傳感器測試與分析的經(jīng)驗,提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時間成本,并降低測試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開發(fā)周期,提升產(chǎn)品的競爭力。
實證
*SPAD的暗計數(shù)與偏壓關(guān)系圖

*SPAD暗計數(shù)與崩潰電壓

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

*SPAD的Jitter測量



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