DIC微分干涉工業顯微鏡JXM-3610
特點
DIC微分干涉工業顯微鏡JXM-3610是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的，作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式，在反射光照明下可進行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩定、高品質的光學系統使成像更清晰，襯度更好。符合人機工程學要求的設計，使您在工作中感到舒適和放松。
參數
| 技術規格 | |
| 觀察頭 | 30°鉸鏈式三目（ |
| 目鏡 | WF10×/ |
| WF10×/ | |
| 物鏡 | 平場無限遠長工作. 距離明暗場物鏡： 5×/0.1B.D/W.D. 10×/0.25B.D/W.D 20×/0.40B.D/W.D. 40×/0.60B.D/W.D. 80×/0.75B.D/W.D |
| 轉換器 | 帶DIC插孔四孔轉換器 |
| 平臺 | 雙層移動平臺 |
| 平臺尺寸: | |
| 移動范圍： | |
| 濾色片 | 插板式濾色片（綠、藍、中性） |
| 聚光鏡 | N. |
| 調焦 | 粗、微動同軸調焦，采用齒輪齒條傳動機構.微動格值 |
| 光源 | 透射照明:鹵素燈12V/50W, AC85V-230V,亮度可調節 |
| 落射照明:帶孔徑光欄和視場光欄，鹵素燈12V/50W，AC85V-230V, 亮度可調節 | |
| 偏光裝置 | 檢偏鏡可360度轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
| 檢測工具 | |
| 可供附件 | 可供附件 |
| 二維測量軟件 | |
| 專業金相圖像分析軟件 | |
| 落射照明：鹵素燈12V/100W, AC85V-230V,亮度可調節 | |
| 平場無限遠長工作距離明暗場物鏡: 50×/0.55B.D/W.D. 100×/0.80B.D/W.D | |
| 測微目鏡 | |
| 130萬、200萬、300萬、500.，1000萬像素CMOS電子目鏡 | |
| 攝影裝置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75× | |
| DIC（10×、20×、40×、100×） | |
| 壓平機 | |
| 彩色1/3寸CCD 520條線 | |
特點說明
1． 采用了UIS高分辨率、長工作距離無限光路校正系統的物鏡成像技術。
2． 拓展了物鏡的復用技術，無限遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法，DIC并在
每一觀察法中均提供高清晰的圖像質量。
3． 采用非球面Kohler照明，增加觀察亮度。
4． WF10×（Φ25）超大視野目鏡，長工作距離明暗場金相物鏡。
5． 可插DIC微分干涉裝置的轉換器。
所有評論僅代表網友意見，與本站立場無關。