一、概述： 玻璃電阻 、玻璃鉑電阻、云母鉑電阻、內繞式陶瓷鉑電阻、膜式鉑電阻產品分析鉑電阻的耐溫高低取決于骨架的耐溫質量和結構形式。玻璃鉑電阻的電阻率隨溫度的變化而變化的現象稱為熱電阻效應廠當溫度變化時，導體或半導體的電阻值會隨溫度變化，對金屬來說，溫度上升時，其電阻值將增大。 玻璃電阻 、云母鉑電阻測溫-100-400℃、玻璃鉑電阻測溫-150-500℃（它的較高），內繞式陶瓷鉑電阻可測-180-750℃，膜式鉑電阻可測溫-55-550℃。 二、玻璃電阻 特點： 玻璃電阻 云母鉑電阻、玻璃鉑電阻都為外繞式，失效的原因主要是骨架和鉑絲熱膨脹系數不同，在高溫的情況下，鉑絲與骨架間隙過大，從而使鉑絲斷開。 內繞式陶瓷鉑電阻失效的原因主要是它的內部繞組是彈簧式的，吊放在兩個瓷孔之間，只有氧化鋁或石英砂填充固定，在不振動的情況下還可以工作，只要有強振動就容易造成短路或斷路，因為它用的填充料是不固定的砂狀，所以在高溫振動的情況下，就會活動，鉑絲與石英砂有摩擦磨損。另鉑絲比重比石英砂比重大，所以鉑絲容易下沉，故造成短路或斷路。 測量范圍：-200_+500（℃） 分度號：Pt100 Pt10 三：玻璃電阻 規格型號： | 玻璃鉑電阻： 直徑1.6~5 | 型號 | 外型尺寸 D×Lmm | 標稱阻值 R0 | 工作電流 mA | 引線尺寸 D×Lmm | 誤差 | 工作溫度oC | 外型圖 Mm | | CHWZPBL | 1．6×12 | 100Ω | 5 | 0．20×10 | A B | -200~600 -200~850 | | | CHWZPBL | 1．6×15 | 0．20×10 | | CHWZPBL | 1．6×25 | 0．20×10 | | CHWZPBL | 2．2×13 | 0．35×10 | | CHWZPBL | 2．2×15 | | CHWZPBL | 2．5×15 | | CHWZPBL | 2．5×25 | | CHWZPBL | 3．0×15 | | CHWZPBL
CHWZPBL | 3．0×25
4.030 |
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定貨時具體尺寸可根據要求單獨生產 四、工作原理： 電阻率隨溫度的變化而變化的現象稱為熱電阻效應廠當溫度變化時，導體或半導體的電阻值會隨溫度變化，對金屬來說，溫度上升時，其電阻值將增大。這樣，在一定溫度范圍內，可以通過測量電阻值變化而得知溫度的變化。鉑電阻元件就是利用鉑金屬材料在溫度變化時其電阻值也隨著變化的特性來測溫的。 鉑電阻元件的電阻與溫度之目的關系近似線性，其特性方程如下: 當溫度t在-200℃~O℃范圍內時， 
當溫度t在O℃~850℃范圍內時，
式中:Rt——鉑電阻元件在溫度t時的電阻值;
Ro——鉑電阻元件在o℃時的電阻值;
A、B、C——分度常數;
t——被測介質溫度。
利用鉑電阻元件的特性方程式，每隔1℃求取一個相應的Rt值，便可得到鉑電阻元件的分度表。這樣在實際測量中，只要測得鉑電阻元件的阻值Rt，便可從分度表中查出對應的溫度值。
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