本產品符合國標GB/T18043-2013對儀器分辨率的要求，EDX3000B采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數探測器;準確無誤地分析黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。

性能特點
長效穩定X光管
半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
數字脈沖處理器，數據處理快速準確
放大電路、高低壓電源
單樣品腔，手動開關機蓋，操作安全、方便
三重安全保護模式
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
特別開發用軟件，操作界面十分友好

應用域
質檢中心 
飾加工廠
金銀珠寶飾店 
貴金屬冶煉廠
典當行 
貴金屬回收
分析測試中心

貴金屬行業解決方案

國家質檢總局發布的國家標準GB/T18043《貴金屬飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。
目在貴金屬制造行業已經形成大規模使用X（XRF）來測試貴金屬含量。

XRF對貴金屬檢測的優勢

標準：產品符合國家相關行業標準和技術標準，并通過等相關檢驗機構檢驗，并可以提供校準證書；
快速：對樣品無需處理，一般只需要20～200即可判定金、銀、鉑、鈀等含量，方便對飾品做大量抽樣的檢測；
精準：ppm精確度，可靠的檢測數據；
無損：測試后，樣品無任何形式的變化；
直觀：實時譜圖，可直觀顯示貴金屬或有害元素含量；
簡易：操作簡易，無需業測試人員，無需嚴格的測試條件；
安全：三重保護裝置，確保安全無誤；
經濟：測試過程基本不需要任何耗材，降低測試與維護費用；
可靠：為化學分析提供測量依據，減少成本，提高效率。