產品簡介
EXPLORER5000手持式光譜儀的產品介紹:手持式光譜儀報價,手持式光譜儀,由江蘇天瑞股份有限公司生產銷售;新代手持XRF;EXPLORER5000手持式現場快速、地分析合號與元素探險者EXPLORER手持式X熒光光譜儀是天瑞儀器結合10年手持便攜式研發經驗,集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術,研制出具有自主知識產權的,新代手持XRF產品
詳情介紹
EXPLORER5000手持式光譜儀的產品介紹:手持式光譜儀報價,手持式光譜儀,由江蘇天瑞股份有限公司生產銷售;新代 手持XRF ;EXPLORER 5000 手持式現場快速、地分析合號與元素探險者EXPLORER手持式X熒光光譜儀是天瑞儀器結合10年手持便攜式研發經驗,集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術,研制出具有自主知識產權的,新代手持XRF產品。EXPLORER 5000手持式XRF合金分析儀是先使用新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數字多道數據處理器的便攜式手持合金分析儀。超低的檢出限使手持式分析儀的性能媲美臺式機;儀器體積小,重量輕,可隨身攜帶進行測量,適用于各類型合金樣品的分析。合金行業應用貴金屬合金鋼鐵冶煉廢舊金屬回收機械制造與加工鍋爐壓力容器航天工業船舶制造......儀器應用領域優勢及應用:*擁有500多種牌號的智能合金庫 EXPLORER 5000 可檢測各種貴金屬合金、高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鈷合金、鎳/鈷耐熱合金、鈦合金、銅合金、青銅、鋅合金、鎢合金等,無損檢測,1秒鐘即可知曉材料的成分及合號。還可對鋁、鎂輕合號進行快速鑒定,并可對材料進行性鑒別(PMI)和確認,掌控材料品質。*材料性鑒別在合金材料生產、機械設備加工制造過程中,對于材料的辨識與元素檢測是不可分割的, EXPLORER 5000 專業無損檢測能防止原材料混料,杜絕不必要的損失。*工業生產過程中的品質控制EXPLORER 5000 專業無損檢測可用于鋼鐵冶煉、鍋爐等高溫高壓行業生產過程中的品質控制與管理,確保材料品質;船舶制造、航空航天等高技術行業中合金成分的識別,從而保障產品質量與安;電力電站等有關計民生行業中,鑒定設備零部件是否達標,設備安。*廢舊金屬回收與再利用 針對廢舊金屬回收與利用行業,EXPLORER 5000 可以對大量金屬廢料進行現場檢測和快速分類。可用于倉庫積壓鋼材回收;廢品收購站金屬分類;車削切屑或刨屑碎片等各個廢舊金屬回收利用環節。是廢舊金屬回收再利用行業中進行金屬識別、鋼材識別的有力。六大性能優勢*更便捷的操作1.重量輕,體積小,人體工程學把手設計,配有專用儀器套,更易抓握,野外使用 更方便。2.360 °可旋轉5寸高清屏,支持多點操控,任何光線下都能清晰顯示。3.密封式體設計,具備防水防塵功能,可在惡劣環境下連續使用。4.無需制備樣品,可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試,也能使用測試座對樣品進行較長時間的精細測試。*更的性能1.無損快速檢測,對準即測,秒可報結果和合號。性能堪比臺式機,檢測效果又快又準。2.同時檢測 鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、鍺、鋯、鈮、鉬、釕、銠、 鈀、銀、銦、錫、銻、鉿、 鉭、 鎢 、錸、鉑、金、鉛、 鉍、鎂、鋁、硅、磷、硫 元素,并且可以根據客戶需求進行定制再增加元素。3.超近光路設計,儀器無需充氦氣,可檢測從Mg開始的輕元素,完可以滿足特定用戶的需求。*更強勁的電力1.選配超大27000mAH鋰電池,續航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器,電力供應。2.內置記憶電池,換電池不斷電。*更的配置1.微型光管、Fast-SDD探測器(上的探測器)、微型數字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術的引入,使其具有臺式相近的測試精度。2.采用超高主頻及大內存,超大存儲空間,可海量存儲數據。新自主研發的數字多道技術,每秒采譜計數可達500k cps。3.準直濾波系統,其組合達到極限12組,滿足客戶的不同條件下的檢測需求。4.內置500W像素高清晰攝像頭,隨時觀察樣品測試位置,使測量更加。*更安的防護1.智能三色預警系統:LED三色長燈帶設計,360度無顯示。通電開機時綠燈亮,測試紅燈閃爍,設備故障黃色燈閃爍,儀器狀態,目了然。2.三重安防護功能: a: 自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏。 b: 采用加厚防護測試壁,防止散射。 c: 配送防護安罩,防周邊輕基體散射。3.安聯動鎖裝置,當軟件無法控制關閉,輕輕按,時間保護您的安,守護后關卡。*更智能的軟件1.EXPLORER 5000 合金分析儀配有專門針對合金行業的專業應用軟件,具有智能化、高靈敏度、測試時間短、操作簡易等特點。2.新的智能軟件,鍵智能操作,采用雙模設計(用戶模式和專家模式)。用戶模式鍵識別樣品材質;專家模式可進行增加元素,增加特定曲線等深入分析操作。3.內置強度校正方法,校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
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