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EDX4500特性：

• 檢出限低、重復(fù)精度高，以及測量適用性廣，因此特別適用于研究和開發(fā)使用

• 配備真空測量室和高性能硅漂移探測器，能夠?qū)崿F(xiàn)測量，尤其是對輕元素的測試

• 通過可編程 X、Y 和 Z 軸進行自動測試

• 準直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測試條件

EDX4500應(yīng)用：

EDX4500涂層厚度測量

• 原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測量厚度低至納米級

• 鋁鍍層和硅鍍層

EDX4500材料分析

• 測定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地

• 常規(guī)材料分析和取證

• 高分辨率痕量分析

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

鍍層測厚儀展廳