測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求:
1.不破壞的測量下具高精密度。 2.極小的測定面積。 3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。 4.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜。5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。
而X-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測量。熒光鍍層測厚儀的性能: 快速、的分析:大面積正比計數探測器和牛津50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大、斑點小,樣品激發佳)相結合,提供靈敏度 簡單的元素區分:通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜 性能優化,可分析的元素范圍大:X-Strata920 預置800多種容易選擇的應用參數/方法熒光鍍層測厚儀的穩定性: 自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,確保穩定的測試結果 例行進行簡單快 速的波譜校 準,可自 動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正 堅固耐用的設計 可在實驗室或生產線上操作 堅固的工業設計 應用的行業: 電子行業:電子、電氣原件,控制生產過程,提高生產力 確保元件性 同時測量焊料合金成份和鍍層厚度 優化質量控制,確保產品生命期 例如: 分析導電性鍍層金和鈀的厚度 測量電腦硬盤上的NiP層厚度 五金電鍍行業:電鍍處理的成本小化,產量化 快速簡單的分析 同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析 多可分析4層鍍層 鍍液成份分析 金屬合金行業: 金屬合金成份分析和牌號認定 珠寶及其他合金的快速無損分析
貴金屬合金分析 黃金純度分析 材料鑒定
鍍層測厚儀_Thick800A
產品說明、技術參數及配置
儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的款儀器,可自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是款功能*的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
技術指標
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。
廠家介紹
是的鍍層測厚儀生產企業, 產品打破了外壟斷局面,性價比,在行業內銷量*,分析儀器上市公司。公司專業生產鍍層測厚儀,氣相色譜質譜儀(GCMS),五金鍍層測厚儀,x射線測厚儀,ROHS檢測儀,手持式ROHS光譜儀,手持式,ROHS檢測設備,電鍍層測厚儀,五金鍍層測量儀,天瑞ROHS儀,X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年,以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步,目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務,是內上市的分析儀器企業。
鍍層測厚儀展廳












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