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X熒光光譜儀_天瑞儀器

產(chǎn)品二維碼
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  • 產(chǎn)品類別:元素分析儀器
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  • 更新時(shí)間:2024-09-02 10:45:57
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X熒光光譜儀_生產(chǎn)銷售_歡迎X熒光光譜儀屬于的分析檢測(cè)儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算(計(jì)算機(jī))體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展

詳情介紹
 X熒光光譜儀_生產(chǎn)銷售_歡迎

X熒光光譜儀屬于的分析檢測(cè)儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算(計(jì)算機(jī))體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺(tái)式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè),并通過中學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定,技術(shù)達(dá)到際水平。


應(yīng)用領(lǐng)域


專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的款設(shè)備,主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測(cè)、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。

性能優(yōu)勢(shì)

1.超低能量分辨率,輕元素檢測(cè)效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測(cè)器,探測(cè)器分辨率達(dá)到139eV,各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測(cè)器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有良好的分析精度。

2. 測(cè)試精度更高,檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計(jì),帶可調(diào)速的自旋樣品腔,能的測(cè)定輕元素和減少樣品均性的影響,提高樣品的測(cè)試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì),測(cè)試時(shí)達(dá)到10Pa以下,使設(shè)備的測(cè)試范圍可從F元素起測(cè)試,大大地提高測(cè)試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快,從1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù),其線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps,可以更加快速的分析,從1秒就可以得出定性定量結(jié)果,
設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率,大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

4. 鍵式智能化操作
專業(yè)軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、鍵智能化操作,使操作簡(jiǎn)易,對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。

5. 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高,具有自動(dòng)開蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,了儀器工作的致性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

6. 強(qiáng)度校正法
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng),光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。

8. 三重安防護(hù)功能
三重安防護(hù)功能,自動(dòng)感應(yīng),沒有樣品時(shí)儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護(hù)測(cè)試壁;配送測(cè)試防護(hù)安罩。

9. 安警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng),通電時(shí)綠色指示燈亮,測(cè)試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測(cè)器
自旋式樣品腔
超薄窗X光管
超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)
可自動(dòng)開啟的測(cè)試蓋
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

技術(shù)參數(shù)

型號(hào):EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測(cè)量
檢測(cè)元素:同時(shí)分析元素達(dá)三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測(cè)時(shí)間:10秒以上
檢測(cè)對(duì)象:標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測(cè)器及分辨率:超大超薄的SDD探測(cè)器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測(cè)器至125eV
激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
測(cè)井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下
濾光片:6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置
檢出限:對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來說,檢出限達(dá)5~500ppm
真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計(jì)數(shù)率
測(cè)試臺(tái):360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式
保護(hù)系統(tǒng):樣品腔為電動(dòng)控制,上蓋打開時(shí)測(cè)試已完成
樣品放置:的樣品杯設(shè)計(jì),自帶壓環(huán),可防止樣品晃動(dòng)
數(shù)字多道技術(shù):計(jì)數(shù)率>50kcps,計(jì)數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

軟件優(yōu)勢(shì)

采用公司新的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、鍵智能化操作,操作簡(jiǎn)易,對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
新的軟件界面和內(nèi)核,采用FP和EC軟件組合的方法,應(yīng)用面更加廣泛。

定性與定量分析


              ()、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎(chǔ),因?yàn)橹挥袕膬x器獲得的譜圖中辨認(rèn)峰譜,才能知道待測(cè)試樣中還有那些元素,并且分析待測(cè)元素的主要譜線,以及常見的干擾譜線,以便選擇合適的測(cè)量譜線,用于定量分析方法,確定譜線的重疊校正方法,選擇校正元素,終達(dá)到測(cè)試樣品的效果。
定性分析的方法:
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確,可以用已知元素的樣品進(jìn)行測(cè)試,觀察是否能夠正確識(shí)別樣品中的元素。如果不正確,需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜,可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線,般情況下,52#(Te,碲)元素以前的元素,大多測(cè)試其K線,但35?!?2#之間的元素,其L線也可以被檢測(cè)出來,同時(shí)它的L線會(huì)對(duì)輕元素測(cè)量產(chǎn)生影響。52#以后的元素般測(cè)試其L線。
4、 K線般有K線必然有K線,線的強(qiáng)度比例在5:1左右,L線必然有L、L…等4條線,在判斷是否是某元素時(shí)必須考慮這因素。
5、 觀察各個(gè)線之間的干擾,找到干擾的元素線系,并確定重疊干擾線之間的影響程度。
 
(二)、定量分析
              X熒光的定量分析可以簡(jiǎn)化為以下公式,它受四種因素影響:
                                                 Ci=KiIiMiSi
              式中:C為待測(cè)元素的濃度,下標(biāo)I式待測(cè)元素;K為儀器的校正因子;I式測(cè)得的待測(cè)元素X射線熒光強(qiáng)度,經(jīng)過背景、譜重疊和死時(shí)間校正后,獲得的純強(qiáng)度。M式元素間的吸收和增強(qiáng)效應(yīng)校正。S與樣品的物理形態(tài)有關(guān),如試樣的均勻性、厚度、表面結(jié)果等,要通過制樣來消除。
       根據(jù)以上的簡(jiǎn)化公式,可以將定量分析的方法分為以下幾個(gè)步驟:
①     根據(jù)樣品的物理形態(tài)和對(duì)分析精度與度要求,決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后,應(yīng)了解制樣的誤差主要因素,應(yīng)該在方法中加以注意。
②     用標(biāo)準(zhǔn)樣品確定的分析條件,如:X射線管的管壓,管流,原級(jí)譜濾光片,測(cè)量時(shí)間等。
③     確定強(qiáng)度的提取方法。
④     制作工作曲線。
⑤     用標(biāo)準(zhǔn)樣品驗(yàn)證分析方法的性及分析數(shù)據(jù)的不確定度。

 

廠家介紹

 

是專業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,ROHS檢測(cè)儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,,ROHS測(cè)量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。


 

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