原理介紹
X熒光光譜儀(XRF)主要由激發源X射線管產生入射X射線(次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
??元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：
??λ=K(Z? s) ?2
??式中K和S是常數。
??而根據量子理論，X射線可以看成由種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：
??E=hν=h C/λ
??式中，E為X射線光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數;ν為光波的頻率;C為光速。
??因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的性
新代的高壓電源和X光管：性能穩定，高達50W的功率實現更高的測試效率
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
標準配置
移動樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
廠家介紹
是專業生產X熒光光譜儀，氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
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