鍍層檢測標準_江蘇天瑞股份有限公司
??美鍍層厚度檢測標準ASTM B 中鍍層厚度檢測標準GB/T 16921-05 際鍍層厚度檢測標準ISO 3497-2000 德鍍層厚度檢測標準DIN EN ISO 3497-2001 日本鍍層厚度檢測標準JIS H8501-1999 美鍍層厚度檢測標準ASTM A754-2006。
鍍層測厚儀器介紹
Thick800A是天瑞儀器銷量多的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)及時。儀器性能特點1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊6.鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護 儀器參數(shù)規(guī)格1 分析元素范圍：S-U2 同時可分析多達5層以上鍍層3 分析厚度檢出限達0.005μm4 多次測量重復性可達0.01μm5 定位精度：0.1mm6 測量時間：30s-300s7 計數(shù)率：1300-8000cps8 Z軸升降范圍：0-140mm9 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 儀器軟件優(yōu)勢: 儀器采用天瑞軟件研發(fā)團隊研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式，測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
| 樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 標準偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測試效果完可以和顯微鏡測試法媲美。
鍍層測厚儀廠家介紹
是專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，等離子發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
天瑞儀器鍍層測厚儀展廳
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