儀器用途：
倒置型 LWD200-4XI 金相顯微鏡適用于金相學、冶金學專業(yè)實驗室的研究。并廣泛應用于集成電路IC行業(yè)、電子半導體業(yè)。也可用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質(zhì)量的鑒定，原材料的檢驗或對材料處理后金相的研究分析等工作。本儀器可配用攝影裝置進行顯微攝影。
主要技術參數(shù):
1．單目鏡筒：傾斜60 °，瞳距55mm-75mm 視度±5°
2．平場目鏡：10X/18mm、12.5X/15mm ，
帶0.1mm刻度十字分劃板目鏡WF10X
3．消色差物鏡：4X、10X、、100X（S、O）
金相平場消色差物鏡：40X(S)
4．總放大倍數(shù)：40X-1250X
5．載物臺：尺寸200mm*180mm
帶兩塊載物盤Ø10和Ø20mm，
移動范圍 70*50mm
6．調(diào) 焦 ：粗微動同軸 升降范圍25mm
微動格值0.002mm，手輪松緊可調(diào)節(jié)
7．聚焦鏡：柯勒照明 ,濾色片（帶藍、綠、黃三塊濾色片）
8．光 源：可調(diào)鹵素燈 6V20W
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