快速檢測，快速響應
徠卡DM3 XL正置顯微鏡 DM3 XL
在微電子和半導體行業中，檢驗、過程控制或缺陷和故障分析的速度至關重要。檢測缺陷的速度越快，您做出響應的速度也就越快。
視場寬敞 30%
DM3 XL 檢驗系統憑借大視場幫助您的團隊更快地識別缺陷，提高您的收益率。充分利用的宏觀物鏡，視場寬敞 30%。
高效檢驗 " 樣品
檢驗、過程控制或缺陷和故障分析全部與速度相關：任何缺陷
都有可能使生產陷入癱瘓；您需要一臺顯微鏡來幫助團隊盡快
且盡可能準確地檢測缺陷。
DM3 XL 檢驗系統助您節省檢驗時間。充分利用的宏觀物鏡，
視場寬敞 30%。DM3 XL 為中等預算用戶提供品質，因為您
沒有時間去妥協。
光學“高手”
DM3 XL 讓您以實惠的價格享受到的光學性能。
采用斜射照明檢驗側面、邊緣或碎屑：以簡單有效的方式從不同角度照亮樣品，從而實現各種形貌的可視化。
借助深暗場對比檢測樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。
您將對明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。
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