TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。該系統同樣被應用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國標準與技術局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標準參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術，在該技術方法中計數濃度會被直接測量而無需假設粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測量精度和測量可重復性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產品，歷經30年深受研究者信任。
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特性和優點
高分辨率數據：高達167通道
1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍
符合ISO 15900:2009標準
快速測量：<10s掃描
寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3
給您大靈活度的組件設計
觸摸屏控制無需電腦操作
免工具安裝易于設置，自動發現組件
審慎的顆粒測量：適合多模樣品
不依賴于粒子和流體的光學性質
寬系統配置選項：可選水介質或丁醇介質凝聚粒子計數器；可選傳統的或中和器
應用
納米技術研究和材料合成
大氣研究和環境檢測
燃燒和發動機排放研究
室內空氣質量測量
成核/凝結研究
吸入毒理學研究
包含組件
與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器
七款凝聚粒子計數器之一
Aerosol Instrument Manager?氣溶膠儀器管理軟件
TSI3938_相關參數_詳情介紹.PDF
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