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冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備,電子電路板高低溫沖擊試驗(yàn)儀器

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):TS
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:可編程振蕩器
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2023-08-09 16:47:17
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其他

  • 經(jīng)營(yíng)模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:5364條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊(cè)時(shí)間:2016-06-01
  • 最近登錄:2022-12-16
  • 聯(lián)系人:潘明昌
  • 電    話:13688990992

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備,電子電路板高低溫沖擊試驗(yàn)儀器用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

詳情介紹

冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備,電子電路板高低溫沖擊試驗(yàn)儀器

宏展之一冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備儀器,電子電路板行業(yè)我們客戶繁多,也得到了客戶的認(rèn)可,多次使用,介紹朋友購(gòu)買,都是給我們前進(jìn)的動(dòng)力。

*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),使用壽命長(zhǎng);
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性;
多種可選功能(測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等)保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯;
每臺(tái)電機(jī)均配置過流(過熱)保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~99%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;


冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備,電子電路板高低溫沖擊試驗(yàn)儀器

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

 

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

 

 

 

+80

±2

 

JESD22
A104-A

+125

+10

 

-40

+0

≦15min

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

規(guī)范要求:

a.采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力(非塑料負(fù)載)
b.傳感器放置測(cè)試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性
a.進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測(cè)試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
b.可擴(kuò)充待測(cè)品表面溫度控制駐留時(shí)間來縮短試驗(yàn)時(shí)間
c.可直接多項(xiàng)規(guī)范與試驗(yàn)條件

蓄熱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗(yàn)規(guī)范

駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)

覆歸時(shí)間
(recovery time)

周期
或次數(shù)

試驗(yàn)起
始點(diǎn)

備注

適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(46/80/150/252/336)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過程若中斷
超過總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

----

0

+125

+15

----

0

-10

+150

+15

----

0

+150

+15

-65

0

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15~30 Min
28~136g
30Min
136g~1.36Kg
60Min
1.36~13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

0

-3

+125

+3

-65

0

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

----

0

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2~3Min

為駐留時(shí)間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

 

 

 

 

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)

Transfer time
不超過2 min

-0

-5

+85

+5

-40

+0

-0

-5

+105

+5

-55

+0

-0

-5

+105

+5

-65

+0

----

-0

-5

+105

+5

 

 

----

-0

IPC 2.6.6

+85

+3

-25

+10

-55

+0

30 Min

10-15
Min

 

5 cycle

 

 

-0

-5

+125

+3

-5

-65

+0

----

-0

-5

*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

保養(yǎng)說明:

1.在實(shí)施保養(yǎng)中過程中,請(qǐng)務(wù)必將機(jī)器之總電源及漏電斷路器予以關(guān)閉

2.請(qǐng)確實(shí)實(shí)施各機(jī)件的定期保養(yǎng),以維持機(jī)器正常運(yùn)作。

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