涂層薄膜方塊電阻測試儀 型號:JY-KDB-1 金洋萬達

本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。

由于薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由μA增加到為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。

由于儀器設有恒流源開關，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。

儀器性能

方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，分辨率1×10-5Ω/□；

電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；

探針壓力：25g～250g；

探針曲率半徑：25μm～450μm

（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定制）；

測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續可調

（100mA檔） 8～36V連續可調

（1000mA檔） 8～15V連續可調；

測量方式：手動或自動（配置測試軟件）；

測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種電子薄膜。

承諾：質量服務承諾：

1.期一年，終生免費維護。

2.在期內，除人為因素外，任何因儀器設計、材料或工藝不當引起的缺陷、故障我們免費修理或更換。

3.接到用戶通知所提供的儀器出現故障后，十分鐘內回應.

4.保證及時向用戶以優惠的提供所需的備品備件和易