北京單晶少子壽命測試儀

Name: 北京單晶少子壽命測試儀
Brand: 北京恒瑞鑫達科技有限公司
SKU: SN/LT-3
Availability: InStock

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參考價: 面議

具體成交價以合同協議為準

產品型號：SN/LT-3
品牌：
產品類別：電子儀表
所在地：北京市

信息完整度：
樣本：
更新時間：2022-06-01 20:00:12
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單晶少子壽命測試非平衡少數載流子硅單晶非平衡少數載

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單晶少子壽命測試儀非平衡少數載流子壽命測試儀

型號：SN/LT-3

.北京單晶少子壽命測試儀該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于   測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
.北京單晶少子壽命測試儀配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
.前置放大器：放大倍數約25；
.北京單晶少子壽命測試儀測量方式：采用對標準曲線讀數方式；.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于   測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
.前置放大器：放大倍數約25；
.測量方式：采用對標準曲線讀數方式；.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于   測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
.前置放大器：放大倍數約25；
.測量方式：采用對標準曲線讀數方式；.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于   測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
.前置放大器：放大倍數約25；
.測量方式：采用對標準曲線讀數方式；.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于   測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
.前置放大器：放大倍數約25；
.測量方式：采用對標準曲線讀數方式；