CLV650系列SICK掃描儀技術講解CLV650系列SICK掃描儀是指激光掃描儀可以測量的遠距離,此參數在實際使用過程中受環境影響較大。主要影響因素有:目標物體表面反射率,目標物體形狀,環境光干擾等等;一般情況下廠家會標明物體表面反射率為10%和90%情況下激光掃描儀的測量距離。
CLV650系列SICK掃描儀掃描精度分為兩種表達方式:系統誤差和統計誤差;系統誤差是指激光掃描儀多次測量的平均值與真值之間的誤差;系統誤差不能被消除,但可以通過預先的標定減小系統誤差影響; 統計誤差是指激光掃描儀多次測量的均方差;統計誤差可以采用多次測量取均值減小;CLV650系列SICK掃描儀環境參數
電磁兼容性(EMC)
EN 61000-6-3 (2001-10) / EN 61000-6-2:2005
抗振動
EN 60068-2-6 (1995)
抗沖擊能力
EN 60068-2-27 (1993)
工作環境溫度
0 °C ... +40 °C
儲存溫度范圍
–20 °C ... +70 °C
允許相對濕度
90 %, 非冷凝
抗環境光能力
2,000 lx, 在條形碼上
條碼打印對比 (PCS)
≥ 60 %
CLV650系列SICK掃描儀類型: CLV650-0120
訂貨號: 1042121
產品系列: CLV65x
產品系列: 條碼掃描器
?掃描設計: 行掃描
?閱讀領域: 正前方
?版本: Standard Density
?連接類型: Ethernet
?電氣連接: 2 x 在旋轉式連接器單元提供 M12 圓插頭(1 x 12 針插頭,A 編碼,1 x 4 孔插座,D 編碼)?工作電壓: 18 V DC .
SICK施克 CLV650固定式條碼掃描器,自動聚焦,讓檢測物總是處于焦點之內。
SICK施克 通過使用實時的自動聚焦功能,掃描景深加大SICK施克 集成功能按鍵,可以實現自動設定,匹配或讀碼效率評估等功能SICK施克 集成CAN工業總線和可選集成以太網端口SICK施克 增強型SMART條碼重組技術,對于破損,污損,打印質量差或者對比度差的條碼有良好的讀取性能SICK施克 *的解碼速度及使用可靠性
SICK施克 能自動對數據進行分類和過濾,并可編程SICK施克 集成WEB服務器,對診斷信息進行收集SICK施克 使用SICK一代的SOPAS軟件進行參數設定SICK施克 集成LED顯示條碼讀碼效率
SICK施克 在同等級產品中體積小,集成度高SICK施克 可選擺鏡式掃描器
SICK施克 主要應用:倉儲系統物流行業包裝行業食品飲料行業汽車行業SICK施克 使用自動聚焦的固定式掃描器-保證了掃描器達到佳的掃描效果SICK施克 SICK公司的CLV6系列產品為終端用戶提供了量身定制的解決方案。除了保證高的掃描率外,著的特征包括了直觀和友好的用戶界面,以及對于以太網和工業總線的支持。CLV650系列SICK掃描儀技術講解及安裝尺寸如下:














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