技術規格
| CCD檢測器 | 多塊高分辨率CCD檢測器 |
| 耐溫變的光學系統 | |
| 波長范圍：140—670nm | |
| 自動描跡 | |
| 分析程序 | 靈活選擇分析程序 |
| 可根據用戶需求優化設計 | |
| 可在現場擴展分析程序 | |
| 火花臺 | 沖氬式 |
| 便于更換的火花臺蓋板 | |
| 便于快速更換的樣品夾具 | |
| 優化的紫外光路 | |
| 激發光源 | 半導體控制放電 |
| 放電電流1-80A | |
| 放電參數可根據不同分析要求調節 | |
| 根據分析程序設置的激發參數: 放電頻率：1-600Hz; 激發時間：10-1000ms | |
| 儀器控制 | 串行接口 |
| 16位ADC | |
| 每16個CCD檢測器配有1個DSP調節器（50MHz） | |
| 計算機系統 | 外置式Pentium計算機 |
| WindowTM操作系統 | |
| 鍵盤和鼠標 | |
| 顯示器 | |
| 打印機 | |
| 軟件 | 分析操作和校正用的SPECTRO SPARK ANALYZER MX 軟件 |
| 連續的自動硬件診斷程序 | |
| 自動合金類型鑒別 | |
| 根據樣品的化學成分與用戶公式自動計算要求值 | |
| 電源和環境要求 | 230V±10%，50Hz |
| 火花激發時400VA | |
| 16A慢熔保險 | |
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| 濕度：20—80% |
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| 溫度： 10℃— 30℃ |
| 尺寸 | 長：740mm 寬：600mm |
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