IDP-7300是一款全新開發(fā)研制的集鍍層測(cè)厚、RoHS指令/鹵素指令/八大重金屬指令一體的X熒光光譜儀。集準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)的極速探測(cè)器技術(shù)（SDD）。采用*，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。

　　一、技術(shù)指標(biāo)

　　型號(hào)：IDP-7300

　　測(cè)試對(duì)像：粉末、固體、液體

　　元素分析范圍：鈉（Na）－鈾（U）

　　同時(shí)最多可測(cè)元素：36種

　　含量分析范圍：1ppm～%

　　工作穩(wěn)定性：總熒光強(qiáng)度為％

　　測(cè)試時(shí)間：60～200秒

　　探測(cè)器分辨率：127eV±5

　　多道分析器：4096道

　　進(jìn)口DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片 64位處理

　　X射線光管： 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo

　　高壓電源：電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時(shí)小于%

　　檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

　　探測(cè)系統(tǒng)：全自動(dòng)對(duì)點(diǎn)探測(cè)系統(tǒng)鼠標(biāo)點(diǎn)擊,自動(dòng)對(duì)點(diǎn)

　　升降軟件系統(tǒng)：電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降軟件獨(dú)立控制

　　外型尺寸：720mm×560mm×450mm(不包括支腳)

　　測(cè)量倉：400mm×280mm×100mm

　　重量：60Kg

　　鍍層技術(shù)參數(shù)：

　　可測(cè)鍍層數(shù)：最多可達(dá)5層

　　鍍層種類：?jiǎn)谓饘馘儗印⒑辖疱儗?/p>

　　鍍層識(shí)別精度：分析檢出限可達(dá)2ppm，可測(cè)試μm。

　　厚度測(cè)試范圍：輕金屬（如：Ti、Cr等）～50um中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）～30um重金屬（如：Pt、Au、Pb等）～15um

　　標(biāo)準(zhǔn)配置

　　配置數(shù)量單位

　　儀器主機(jī)部分主要配置1 套

　　1. SDD硅漂移探測(cè)器(進(jìn)口) AMPTEK 1 套

　　2.低功率X光管 1 個(gè)

　　3. 高壓電源 1 個(gè)

　　4. 2048道數(shù)字多道分析器 1 套

　　5. 高精密CCD 1 個(gè)

　　6. 濾光片組 5 組

　　7. 準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換 6 個(gè)

　　主要性能優(yōu)勢(shì)：

　　采用極速探測(cè)器技術(shù)；

　　分辨率至125eV；

　　探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；

　　采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)；

　　采用大功率X光管及*的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)；

　　光閘系統(tǒng)，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度；

　　精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)；

　　多點(diǎn)測(cè)試，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試超小樣品檢測(cè)；

　　人性化的設(shè)計(jì)：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機(jī)。

　　優(yōu)點(diǎn)：

　　1、可測(cè)ROHS及金屬鍍層，ROHS/無鹵元素分析可以一次性測(cè)試完成，無需分開測(cè)試。

　　2、核心配件均采用進(jìn)口件

　　3、儀器測(cè)試過程中無意開蓋，儀器裝有開蓋切斷開關(guān)，可預(yù)防輻身安全。

　　4、每年進(jìn)行儀器免費(fèi)檢測(cè)調(diào)校

　　5、X光管設(shè)計(jì)使用壽命為2萬小時(shí).德譜的延長光管使用壽命的技術(shù)：

　　(1)、光管自動(dòng)防老化功能。

　　(2)、自動(dòng)跟進(jìn)不同材質(zhì)選擇不同的光管電流。

　　(3)、*的散熱系統(tǒng)保證光管正常的工作條件;