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安柏Applent|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品二維碼| 參 考 價(jià): | 面議 |
- 產(chǎn)品型號(hào):40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40
- 品牌:
- 產(chǎn)品類別:電子儀表
- 所在地:深圳市
深圳市朗普電子科技有限公司
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安柏Applent|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
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