智能貴金屬分析測試儀SMART-100P采用X射線熒光光譜儀實現貴金屬分析測試,采用新一代的Silicon Drift Detector（x-sdd）和多通道技術,能夠分析各種尺寸的貴金屬,2秒即可得到貴金屬分析測試結果,廣泛用于各種貴重金屬分析測試。
智能貴金屬分析測試儀SMART-100P特色:
●采用硅漂移探測器（x-sdd）檢測技術，分辨率高達125ev。
●數字多道技術的高效率計數率
●高功率X射線管和自動準直/過濾系統提供更高的激勵效率
●光學快門系統提高了測試的效率和準確性
●二維移動樣品平臺支持圖像控制和多點測試
●檢測樣品為1mm大小。
智能貴金屬分析測試儀SMART-100P應用領域：
●貴金屬冶煉廠和貴金屬回收
●珠寶店和珠寶加工
●貴金屬檢測、分析和試驗。
智能貴金屬分析測試儀SMART-100P規格：
型號 | SMART-100P |
|---|---|
檢測元素 | Sulfur ( S ) - Uranium ( U ) |
精度 | 含量超過96%的樣品低達0.03% |
分析范圍 | ppm up to 99.999% |
工作溫度 | 10°C ~ 35°C |
探測器 | X-SDD |
檢測時間 | 2-10 s |
電源 | AC 220V ± 5V or AC 110V ± 5V |
X射線球管 | Tube voltage (Max)-50Kv Tube current (Max): 1mA |
尺寸 | 700mm x 620mm x 380mm |
重量 | 100kg |
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